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BASF公司Exactus紅外測溫儀適用范圍廣泛.與其他典型的測量技術相比，超靈敏電子技術、精密光學技術以及利用短波長測量低溫的能力使得過程控制更加嚴格、精度更高、整體性能更好。

Photrix 紅外測溫儀，具有優(yōu)異的信噪比，測溫下限可低至75℃，上限可高達2600℃的數(shù)字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。

Photrix 外延片測溫儀，具有優(yōu)異的信噪比，測溫下限可低至75℃，上限可高達2600℃的數(shù)字式高溫計。非常適用于閉環(huán)控溫。

UV400 GaN基外延片測溫儀用于GaN基外延的晶圓表面溫度和反射率真實測量，溫度范圍650…1300℃

Sekidenko OR4000T 紅外測溫儀可實現(xiàn)兩通道多波長測溫。其光學系統(tǒng)可依據(jù)具體應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR4000T增加了發(fā)射率實時測量功能。

Sekidenko OR4000E 外延片測溫儀可實現(xiàn)兩通道多波長測溫。其光學系統(tǒng)可依據(jù)具體應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管。相較于Sekidenko OR4000T增加了發(fā)射率實時測量功能。

Sekidenko OR400T 外延片測溫儀可根據(jù)材料類型和所需溫度范圍配置波長?？筛鶕?jù)具體應用選擇光纖鏡頭或者藍寶石光管光學系統(tǒng)。

Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長3.3或5.2μm，具有RS232數(shù)字輸出和模擬輸出接口，適用于薄膜太陽能，玻璃，半導體工藝溫度的精確測量。